KONTROLA A BALENIE ZVÁRACÍCH DIÓD SÉRIE ZW
Skúšobné metódy a pravidlá kontroly
1. Kontrola šarží po šarži (kontrola skupiny A)
Každá šarža produktov by sa mala kontrolovať podľa tabuľky 1 a všetky položky v tabuľke 1 sú nedeštruktívne.
Tabuľka 1 Kontrola na dávku
| Skupina | InšpekciaPoložka | Metóda kontroly | Kritérium | AQL (Ⅱ) |
| A1 | Vzhľad | Vizuálna kontrola (za normálnych podmienok osvetlenia a videnia) | Logo je číre, povrchová úprava a pokovovanie sú bez olupovania a poškodenia. | 1.5 |
| A2a | Elektrické charakteristiky | 4.1 (25℃), 4.4.3 (25℃) v JB/T 7624-1994 | Obrátená polarita:VFM>10USL IRRM>100USL | 0,65 |
| A2b | VFM | 4.1 (25 °C) v JB/T 7624-1994 | Sťažnosť na požiadavky | 1,0 |
| IRRM | 4.4.3 (25 ℃, 170 ℃) v JB/T 7624-1994 | Sťažnosť na požiadavky | ||
| Poznámka: USL je maximálna limitná hodnota. | ||||
2. Periodická kontrola (kontrola skupiny B a skupiny C)
Podľa tabuľky 2 by hotové výrobky v bežnej výrobe mali byť skontrolované aspoň jednou šaržou skupiny B a skupiny C každý rok a kontrolné položky označené (D) sú deštruktívne skúšky.Ak je počiatočná kontrola nekvalifikovaná, dodatočný odber vzoriek sa môže znova skontrolovať podľa prílohy Tabuľka A.2, ale iba raz.
Tabuľka 2 Periodická kontrola (skupina B)
| Skupina | InšpekciaPoložka | Metóda kontroly | Kritérium | Plán odberu vzoriek | |
| n | Ac | ||||
| B5 | Teplotný cyklus (D) nasledovaný utesnením |
| Meranie po teste:VFM≤1,1USL IRRM≤2USL nie únik | 6 | 1 |
| CRRL | Stručne uveďte príslušné atribúty každej skupiny, VFM a jaRRMhodnoty pred a po teste a záver testu. | ||||
3. Identifikačná kontrola (kontrola skupiny D)
Keď je výrobok dokončený a uvedený do výrobného posúdenia, okrem kontrol skupiny A, B, C by sa mala vykonať aj skúška skupiny D podľa tabuľky 3 a položky kontroly označené (D) sú deštruktívne skúšky.Normálna výroba hotových výrobkov sa musí testovať aspoň jedna šarža skupiny D každé tri roky.
Ak počiatočná kontrola zlyhá, dodatočný odber vzoriek sa môže znova skontrolovať podľa prílohy Tabuľka A.2, ale iba raz
Tabuľka 3 Identifikačný test
| No | Skupina | InšpekciaPoložka | Metóda kontroly | Kritérium | Plán odberu vzoriek | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | Zaťažovací test tepelného cyklu | Časy cyklov: 5000 | Meranie po teste:VFM≤1,1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | Náraz alebo vibrácie | 100g: podržte 6 ms, polovičný sínusový priebeh, dva smery 3 vzájomne kolmých osí, 3-krát v každom smere, spolu 18-krát.20g: 100~2000Hz, 2h z každého smeru, celkom 6h. | Meranie po teste: VFM≤1,1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | Stručne uveďte príslušné údaje o atribútoch každej skupiny, VFM , IRRMa jaDRMhodnoty pred a po teste a záver testu. | |||||
Označovanie a balenie
1. Označiť
1.1 Označenie na produkte obsahuje
1.1.1 Číslo produktu
1.1.2 Identifikačná značka koncovky
1.1.3 Názov spoločnosti alebo ochranná známka
1.1.4 Identifikačný kód kontrolnej dávky
1.2 Logo na kartóne alebo priloženom návode
1.2.1 Model produktu a štandardné číslo
1.2.2 Názov a logo spoločnosti
1.2.3 Značky odolné voči vlhkosti a dažďu
1.3 Balík
Požiadavky na balenie výrobkov by mali byť v súlade s domácimi predpismi alebo požiadavkami zákazníkov
1.4 Produktový dokument
Na dokumente by mal byť uvedený model výrobku, číslo implementačnej normy, špeciálne požiadavky na elektrický výkon, vzhľad atď.
Thezváracia diódavyrába Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor je široko používaný v odporovej zváračke, stredno- a vysokofrekvenčnom zváracom stroji až do 2000 Hz alebo viac.Zváracia dióda od Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor s ultranízkym predným špičkovým napätím, ultranízkym tepelným odporom, najmodernejšou výrobnou technológiou, vynikajúcou substitučnou schopnosťou a stabilným výkonom pre globálnych používateľov je jedným z najspoľahlivejších zariadení čínskej energie. polovodičové výrobky.